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测试须知
1. 粉末、液体样品均可；薄膜和块体无法直接测试，需要用离子减薄、电解双喷、FIB切片、包埋切片等制样方法得到符合要求的样品才能测试，请提前沟通并确认；
2. 粉体纳米级颗粒需5mg左右；液体1ml以上，若是分散的液体，尽量浓度稍大一些，测试老师可以根据实际情况稀释拍摄；
3. 制样载网的选择：普通碳膜：适用拍摄低倍材料或生物样品；超薄碳膜：适用量子点、小颗粒等尺寸较小材料；微栅：适用500nm以上管状、棒状、纳米团聚物样品；钼网：适用于含Cu样品能谱采集。
4. 磁性说明：若样品有磁性（含铁/钴/镍/锰元素），请务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性，强磁样品要求颗粒粒径不超过200nm，且不接受自己制样，因磁性抖动导致的效果不佳，不安排复测；
5. 由于形貌类测试的特殊性，请尽量提供相关参考图片或文字说明；测试老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄，但不能保证一定拍到理想形貌，敬请理解；
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项目介绍
透射电子显微镜（TEM）是通过高能电子束穿透超薄样品，利用电子与样品原子相互作用产生的信号形成高分辨率显微图像，用于观察材料的微观结构和成分。其核心机制包括电子束发射、磁透镜聚焦、样品相互作用及成像系统转换，使得分辨率可达亚纳米级。
样品要求
1. 样品状态说明：
粉末、液体样品均可；粉末5mg左右，液体1ml以上；薄膜和块体无法直接测试，需要用离子减薄、电解双喷、FIB切片、包埋切片等制样方法得到符合要求的样品才能测试，请提前沟通并确认；
2. 样品成分说明：
该说明仅针对一般无机材料类样品，不适用于生物类样品同。要求如下：
（1）安全性：无毒、无放射性；
（2）是否含有有机物：有机物在高压下不稳定，拍摄过程中极易被打散，样品被打散的同时会污染到仪器，如需拍摄，请务必与工作人员确认。含有有机物的样品一般不能进行mapping表征，请慎选此选项；
（3）磁性：磁性材料可能被吸附到极靴上，会污染电镜，原则上电镜（SEM和TEM）不拍磁性样品。但是不同的设备，测试老师不同的样品处理经验状况下，对所拍样品磁性强弱的接受度不同，所以在预约时候请务必如实填写样品是否含磁及磁性的强弱。为方便区分样品是否有磁性及磁性强弱，我们按如下方法对磁性样品进行定义：
非磁：样品中不含有铁、钴、镍、锰、钌等磁性元素，且不能被磁铁吸起或吸动。
弱磁：样品中含有铁、钴、镍、锰、钌等磁性元素，但不会被磁铁吸起或吸动。
强磁：样品会被磁铁吸起或吸动。
结果展示
常见问题
1. 铜网怎么选择？
看形貌用普通碳膜铜网，高分辨用超薄碳膜或者微栅；
样品尺寸大于几十纳米，看高分辨用微栅（微栅没有衬底，中间是空心）；
若小于10nm不建议用微栅，因为会捞不上样品；
量子点或小颗粒10nm，只能用超薄碳膜，相对衬度不是很好；
mapping要做C元素，用微栅，要求片状样品刚好在铜网孔的中间，在孔边缘也是会有碳膜存在，因为微栅骨架上也有碳膜在；
铜网，超薄碳膜，微栅都含有Cu元素，如果做mapping，样品刚好在骨架上，就会扫到做Cu元素，故一般用钼网代替，但普通钼网做高分辨效果不好，如果样品里正好含有铜和钼，可以选择镍网。
2. TEM有哪些模式？
TEM一般利用传播路线与光轴平行或者传播路线在光轴上某一点会聚光这两种电子光源光模式和待测样品之间的相互作用来成像，可把平行光视为手电筒的光源，汇聚光视为激光器的光源。
平行光照射模式：明暗场衬度图像（BF/DF）、高分辨图像（HRTEM）、选区电子衍射图像（SAED）、能谱图像；
汇聚光照射模式（STEM）：常用的是HAADF-STEM像，可以实现原子信息或者EDS-Line，EDS-Mapping和STEM-EELS浓度较低的成分分析。
3. 对于不适合喷金的TEM强磁样品，有哪些替代方法可以提高成像质量？
可通过以下方法：
1）石墨烯或碳纳米管膜、金属网格与导电聚合物涂层替代喷金；
2）硬磁材料（如NdFeB）、多层磁性薄膜可通过离子束减薄或聚焦离子束（FIB）将样品减薄至50-100 nm，显著降低磁畴尺寸和磁场梯度。
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