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测试须知
1. 样品状态：可为粉末、液体、块体、薄膜样品；
2. 块体及薄膜样品，长宽小于30mm，厚度不超过10mm（标记好测试面）；粉末样品不少于20mg（需说明制样方法）；液体样品不少于1mL（液体制样后测试，无法直接测试液态或含液体的样品，也需说明制样方法）；
3. 测试开尔文探针力KPFM、压电PFM、纳米力学QNM（力曲线、杨氏模量）、导电性能C-AFM、磁学性能MFM、静电力EFM的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求；
4. PFM，KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200nm之间，粉末样品测试很难测到较好结果。
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项目介绍
原子力显微术通过微悬臂探针与样品表面的原子间作用力（范德华力、化学键力等）变化实现检测。
可以进行表面形貌、厚度、粗糙度测试，特殊模式可以测开尔文探针力KPFM、压电PFM、纳米力学QNM（力曲线、杨氏模量）、导电性能C-AFM、磁学性能MFM、静电力EFM等。
样品要求
1. 样品状态：块体、粉末、液体/薄膜均可；
2. 块体/薄膜样品：长宽要求5-30mm，厚度要求1-5mm，表面粗糙度不超过1μm，请务必说明并标记测试面；
3. 粉末样品：至少提供20mg；务必说明制样条件（制样浓度、分散剂、是否超声以及超声时间）；
4. 液体样品：至少提供1mL；务必说明制样条件（是否稀释以及稀释多少倍、分散剂、是否超声以及超声时间）。
结果展示
常见问题
1. 为什么AFM测试样品颗粒或者表面粗糙度不能过大？
AFM仪器测试的Z向范围是10um左右），因此样品表面起伏过大的样品可能会超出仪器扫描范围，另外粗糙度比较大的样品会导致针尖易磨钝或者受污染，影响图像质量的同时也会增加耗材成本。
2. AFM的测试模式和对应可以测得的数据有哪些？
表面形貌测试：可得到样品表面形貌（2D、3D）以及粗糙度和厚度/高度;
导电性能测试(C-AFM)：同时得到形貌和电流分布图；也可以进行选区I-V曲线测试;
表面电势测试(KPFM)：表面电荷的半定性表征，能直接测量探针和样品间的电势差；
磁学性能测试(MFM)：微区磁畴的分布表征；
纳米力学测试(QNM)：力学图谱测量，可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量，得到微区的杨氏模量分布，适用于较软样品高级纳米力学成像模式，可对有机物，高分子以及金属材料进行扫描，同时得到形貌和模量分布；
压电力测量(PFM)：薄膜，陶瓷，晶体，纤维材料的表面铁电畴表征，极化反转和蝴蝶曲线测试。
3. AFM粉末制样，基片选择有哪些？
AFM粉末制样时基片的选择有云母、高序热解石墨HOPG、单晶硅片、玻璃、石英等；一般要结合样品的亲疏水、表面化学特性等选择合适的基片。
云母：具有原子级平整的表面，适合用于详细研究粉体尺寸和形状等特性；
高序热解石墨（HOPG）：具有原子级平整的表面，适用于需要高精度测量的样品；
单晶硅片：是一种常用的基片，适用于多种类型的样品测试；
玻璃和石英：常用于粉末样品的制样，具体选择取决于样品的特性和测试需求。
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