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测试须知
1. 样品要求：块体样品，长宽高不超过300*240*100mm，质量在5kg以下；
2. 每个样品默认拍2个位置，一个位置限一个倍数；有指定位置请标注及说明范围大小，无法测试有荧光的生物类样品；
3. 特别注意：注意样品形状，尽量平整，有摩擦或冲撞镜头风险的样品不能测试。
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项目介绍
结合激光共聚焦技术，通过点扫描和光学层析实现样品的高分辨率三维成像。其核心部件包括激光光源、共轭聚焦系统、扫描装置及计算机图像处理模块，通过排除离焦光干扰显著提升成像质量。
可对材料进行表面三维形貌成像、材料表面剖面和选区粗糙度分析、表面轮廓线分析。
样品要求
块体样品，长宽高不超过 300*240*100mm，质量在5kg以下，待测面尽量平整。
结果展示
常见问题
1. 激光共聚焦中二维、三维、粗糙度数据，和AFM的区别？
激光共聚焦对样品尺寸、表面起伏程度要求不高，而AFM表面起伏程度必须在15微米以内；
2. 同样都是测粗糙度，共聚焦显微镜和超景深显微镜以及粗糙度仪在粗糙度测量上的区别是什么？
主要区别在于其技术原理和应用场景。
共聚焦显微镜：通过点扫描逐点激发样本，利用共聚焦技术提升图像的对比度和分辨率。它能够提供高精度的三维成像，适用于微纳级粗糙轮廓的检测，尤其在测量陡峭边缘和复杂形状的表面时表现出色。
超景深显微镜：主要用于观察具有较大景深的样本，能够合成具有厚度的图像。其分辨率和精度相对较低，适用于一般粗糙度测量，但不适合高精度测量。
粗糙度仪：接触式测量，所得结果偏向于宏观情况，适用于管材内外壁粗糙度测量。
咨询热线
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